Total Reflection XRF is een geavanceerde analytische techniek die wordt gebruikt voor de elementaire analyse van diverse materialen. Het is vooral nuttig voor het detecteren en kwantificeren van sporenelementen in verschillende monsters, variërend van vloeistoffen en poeders tot vaste stoffen.
Een belangrijk kenmerk is het principe van totale reflectie, waarbij röntgenstralen zich onder een zeer kleine hoek op het monsteroppervlak reflecteren. Dit resulteert in een aanzienlijk verhoogde gevoeligheid voor elementaire analyse.
- Milieubewaking
- Aerosolmetrologie
- Farmaceutische industrie
- Voedingsindustrie
- Bio- en klinisch chemische industrie
- Nano industrie
- Kwaliteitscontrole van zuivere stoffen en industriële producten
S2 PICOFOX
- Vervanger voor o.a. AAS en ICP-OES
- Mobiel voor in de auto, geen aansluiting nodig voor gassen
- Perfect bij kleine monstergroottes
- Geen matrix of memory effecten
- Gewicht van slechts 39 kg
- Al tot U (uitzondering: Nb en Ru)
S4 T-STAR
- Vervanger voor o.a. AAS en ICP-OES
- Low ppb tot 100%
- Capaciteit van 90 samples
- Mg tot U (uitgezonderd: Nb en Ru)
- Geen externe koeling nodig
