Low-kV scanning elektronenmicroscopie (<5 kV) maakt zeer oppervlaktegevoelige beeldvorming mogelijk met minder schade door de electronenbundel en minimale monstervoorbereiding.
Moderne desktop SEM-systemen met STEM-detectie breiden de traditionele SEM-beeldvormingsmodus uit en bieden een efficiënte manier om monsters te screenen voordat er een TEM-analyse met hoge resolutie wordt uitgevoerd.
Transmissie-elektronenmicroscopie (TEM) wordt veel gebruikt voor het bestuderen van materialen en biologische structuren met een resolutie op atomaire of nanoschaal. De monstervoorbereiding voor TEM is echter complex en omvat doorgaans verschillende stappen:
Deze processen vereisen een gespecialiseerde laboratoriuminfrastructuur, aanzienlijke voorbereidingstijd en ervaren operatoren.
Voor veel onderzoeksvragen, vooral tijdens de vroege projectfasen of bij snelle monsterkarakterisering, is een dergelijke complexe voorbereiding wellicht niet nodig. In deze situaties biedt lage-kV-scanningelektronenmicroscopie (lage-kV-SEM) een efficiënt en praktisch alternatief.
Low-kV SEM werkt doorgaans bij versnellingsspanningen onder 5 kV. Bij deze lagere spanningen:
Dit maakt een visualisatie met hoger contrast mogelijk van structuren dicht bij het oppervlak van het monster.r.
Low-kV SEM biedt verschillende belangrijke voordelen:
Deze voordelen maken Low-kV SEM bijzonder geschikt voor:
Lees het volledige artikel op onze gespecialiseerde website: electron-microscopes.com.
