Desktop elektronenmicroscopie (SEM) heeft de afgelopen jaren sterk aan populariteit gewonnen. Compacte desktop SEM‑systemen zoals de Thermo Scientific Phenom‑serie maken hoogwaardige beeldvorming en analyse toegankelijk voor veel meer labs: van QC en R&D tot industriële toepassingen in farmacie, voeding, polymeren, keramiek en metaal. Dit artikel beschrijft waarom desktop SEM aantrekkelijk is, welke technologische mogelijkheden er zijn en welke Phenom‑modellen en applicaties beschikbaar zijn.
Bekijk hier de verschillende desktop SEM‑systemen van Thermo Scientific
Desktop SEM vereist geen speciale infrastructuur op vlak van stabiliteit, temperatuur of vochtigheid en is economisch haalbaar voor labs waar SEM niet voltijds wordt gebruikt.
Gebruik‑ en onderhoudskosten liggen vaak veel lager dan bij klassieke floor‑model SEM’s.
Desktop SEM overbrugt beperkingen van optische microscopen op het vlak van vergroting en scherptediepte.
Beeldanalyse wordt vaak gecombineerd met chemische analyse (EDS) en automatische deeltjesgrootte‑/vormbepaling via gespecialiseerde software.
Operatoren kunnen in veel gevallen binnen één dag worden opgeleid; een specifieke academische vooropleiding is niet noodzakelijk.
Standaardprocedures voor monstervoorbereiding en beeldopname maken meerdere gebruikers mogelijk.
Een desktop SEM vereist minder infrastructuur, heeft lagere kosten en kortere opleidingstijd, terwijl het voldoende resolutie en automatisatie biedt voor veel toepassingen.
Vergrotingsbereik van 160× tot 350.000× met beeldresolutie beter dan 6 nm; ingebouwde optische microscoop 20×–160×. Voor extreem hoge resolutie is er een FEG‑SEM (Pharos) met vergroting tot 2.000.000× en resolutie < 2 nm.
Standaard: backscatter detector (BSD). Optioneel: secondary electron (SE) detector en EDS voor chemische analyse (point, line scan, mapping).
G‑ en XL‑series: CeB6 bron met hoge helderheid en lange levensduur. Pharos: FEG voor nog hogere helderheid en stabiliteit.
Variabele versnelspanning 1 kV – 20 kV. Meerdere vacuummodi en monsterhouders of vacuum controller voor aangepaste vacuümniveaus.
G‑series: monsters tot 25 mm diameter × 30 mm hoogte. XL‑series: monsters tot 100 × 100 × 40 mm (h); geautomatiseerde metingen op maximaal 36 × 12 mm stubs of 9 × 30 mm filters.
Automatische deeltjesgrootte‑, vezeldiameter‑ en poriënanalyse; geautomatiseerde oplossingen voor additive manufacturing, technical cleanliness, battery research, steel inclusions, en gespecialiseerde modules zoals asbestanalyse en gunshot residue.
Sommige modules combineren beeldanalyse met EDS‑elementanalyse.
Beschikbare opties: koeling en verwarming, automatische eucentrische tilt‑rotation houder, miniatuur testbank voor trek‑, druk‑ en buigtesten.
Volledige SEM‑functionaliteit, korte time‑to‑image en hoge flexibiliteit voor diverse monsters en toepassingen.
Download hier de Phenom ProX G6 brochure
Ontworpen voor grotere monsters en geautomatiseerde workflows; veel gebruikt voor automatisatie‑applicaties zoals additive manufacturing en technical cleanliness.
Download hier de Phenom XL brochure
Enige commercieel beschikbare desktop FEG‑SEM met resolutie < 2 nm en vergroting tot 2.000.000×; combineert FEG‑prestaties met ProX G6‑functionaliteit.
Download hier de Phenom Pharos brochure
Een veelzijdige oplossing voor hoge kwaliteit, in-house analyse, de Phenom ParticleX Desktop SEM geeft u de mogelijkheid om snelle karakterisatie, verificatie en classificatie van materialen uit te voeren.
Lees meer over de Phenom ParticleX
Downloadbare brochures voor specifieke toepassingen zijn beschikbaar. Voor een demonstratie met uw eigen monsters kunt u contact opnemen met product specialist Kars de Wildt.
Download hier de brochures voor elk van deze toepassingen
Contacteer dan onze product specialist voor een bespreking van uw applicatie, of om een demonstratie vast te leggen op uw eigen monsters.
